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SEM锡球颗粒标样10nm-100nm AGS1967
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此碳基底锡球标样中,锡球颗粒尺寸范围为10nm - 100nm,非常适合于进行象散校正。适用于场发射扫描电镜、台式扫描电镜和高倍率光学显微镜,锡球颗粒比金颗粒更适合于检测背散射电子分辨率。


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