FR系列光学膜厚仪
这款膜厚仪的基本原理是利用白光反射光谱法来测量薄膜厚度。白光反射光谱法是一种分析材料光学性质的方法，它通过使用白光源照射待测物体，然后测量物体反射的光谱，以获取物体在不同波长下的反射率信息。它采用了自动化的测量方法，将薄膜样品放置在测量台上，光源发射的白光通过光纤被引导到反射探针，垂直入射到样品表面上。同时，反射探针收集反射光，将其引导至膜厚仪内置软件进行分析计算。通过分析不同波长的光在样品表面的反射率，可以得到材料的光学特性，如折射率、吸收率、透射率等。
这款膜厚仪的优点是测量精度高、测量速度快、非接触式测量、适用于各种类型的薄膜材料。它广泛应用于半导体、有机电子、材料科学、聚合物、二维材料、涂层、光伏太阳能电池、生物传感……等领域。
特点：
1 、非接触式测量：避免物件受损。
2 、三维表面测量：表面高度测量范围为 2nm ---500μm。
3 、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。
4 、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达0.1nm。
5 、高速数字信号处理器：实现测量仅需几秒钟。
6 、扫描仪：闭环控制系统。
7 、工作台：气动装置、抗震、抗压。
8 、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算。
应用领域：
聚合物和抗蚀剂表征、化学测量、电介质特性、生物医学、半导体、硬质涂层、光学涂层、非金属薄膜等。
选型指南：
一款模块化且可扩展的平台，用于测试1nm-3mm厚度范围内的涂层
全自动，超快速，高精准等膜厚表征绘制和膜厚涂覆的光学特性
高精准，USB电源驱动便携式，满足用户实时需要
一种独立工具适用于需要小至几um的光斑尺寸的应用
如有测样需求，可点击此处填写表单，申请测样服务。
